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Dettagli
| Descrizione | Picture of an interference pattern of subwavelength width double slits |
| Data | |
| Fonte | Opera propria |
| Autore | Bryan Tong Minh |
| Licenza (Riusare questo file) |
PD-Self |
Interference pattern of a 632.8 nm HeNe laser through a double slit of 200 nm width a distance of approx. 20 micron between them.
Licenza
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| Data/Ora | Miniatura | Dimensioni | Utente | Commento | |
|---|---|---|---|---|---|
| attuale | 18:50, 2 nov 2006 | | 2 272 × 1 704 (876 KB) | Bryan | {{Information |Description=Picture of an interference pattern of ''subwavelength width double slits'' |Source=Own work |Date=25 August 2005 |Author=Bryan Tong Minh |Permission=PD-Self |other_versions= }} |
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